Квантовый выход ионов металла в полупроводник в светочувствительной системе полупроводник-металл можно определять оригинальным способом, предложенным Владимиром Костко из Брестского государственного университета имени А.С.Пушкина (патент РБ на изобретение №14091, МПК (2009): G01N27/04, G03C8/02; заявитель и патентообладатель: вышеупомянутое Учреждение образования). Предложенный способ определения квантового выхода ионов металла в полупроводник может найти практическое применение в фотолитографии и оптотехнике фотокатодов.
Поясняется, что светочувствительная система полупроводник-металл является неравновесной. При облучении такой системы активным светом происходит взаимный перенос ионов из металла в полупроводник и наоборот и последующее их химическое взаимодействие.
Для количественной оценки фотохимических превращений, происходящих в системе полупроводник-металл, необходимо определить квантовый выход ионов металла в полупроводник. Основным недостатком известного способа такого определения, выбранного автором за прототип, является нелинейность зависимости удельного электрического сопротивления металла от толщины его слоя, что ведет к большим погрешностям измерений.
Если вы предпочитаете онлайн покупки и очень любите Ebay, но без русского языка плохо ориентируетесь по категориям товаров, то для вас созан eBay на русском, где собраны и структурированы все категории Ebay. Пользоваться таким ресурсом гораздо легче.
Предложенный способ заключается в том, что на диэлектрическую подложку последовательно напыляют слой металла в виде полоски-змейки и слой полупроводника определенной толщины. Далее измеряют электрическое сопротивление слоя металла до облучения системы полупроводник-металл светом, проводят экспонирование этой системы активным светом и измеряют световую энергию, поглощенную системой полупроводник-металл. Величину квантового выхода ионов металла в полупроводник определяют, исходя из приведенного в формуле изобретения математического выражения, в которое входят величины: плотность, ширина, толщина и общая длина полоски металла, длина ее облучаемого участка, атомный вес металла и др.