Повысили точность определения температуры структурно-релаксационного перехода вещества (температуры стеклования, плавления, денатурации) своим изобретением М.Стародубцева, Н.Егоренков, А.Суслов и С.Чижик (патент РБ на изобретение № 18895, МПК (2006.01): G 01N 13/00; заявители и патентообладатели: Гомельский государственный медицинский университет, ОДО «Микротестмашины»).

Существуют способы определения температуры структурно-релаксационного перехода веществ, основанные на измерении изменений их механических, теплофизических и оптических характеристик в момент такого перехода.

Авторам по душе пришелся способ определения температуры структурно-релаксационного перехода веществ, основанный на применении метода термонаноэластографии. В этом методе поверхность исследуемого образца сканируют зондом-индентором атомно-силового микроскопа и получают карты латеральных сил, возникающих при движении зонда по поверхности исследуемого образца. В предложенном авторами способе подобные карты получают при различных температурах исследуемых образцов и строят температурные зависимости средних значений латеральных сил. В качестве температуры структурно-релаксационного перехода принимают температуру, при которой на построенных температурных зависимостях наблюдаются характерные изменения.

Отработку своего способа авторы проводили с использованием серийно выпускаемого оборудования – атомно-силового микроскопа марки НТ-206 производства фирмы «Микротестмашины» (Республика Беларусь), укомплектованного термоплатформой ТТ-1 с автономным контроллером. Точность проводимых измерений температуры структурно-релаксационного перехода веществ составляет 0,1 ⁰С.