Эффективный метод экспресс-контроля структурных особенностей моно- и поликристаллических образцов ферромагнитных материалов (со структурой граната, перовскита и шпинели) разработан И. Ломако [патент Республики Беларусь на изобретение № 10360, МПК-2006: G01 N27/72, G01 N23/00; заявитель и патентообладатель: Государственное научное учреждение «Объединенный институт физики твердого тела и полупроводников НАН Беларуси» (ныне – ГНПО «Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению»)].
Предложенный метод заключается в измерении интенсивностей когерентного и некогерентного рентгеновского рассеяния на двух противоположных сторонах приготовленных специальным образом ферромагнитных образцов. Далее (с использованием заранее известных корреляционных зависимостей введенных автором изобретения параметров) определялись концентрация и степень неоднородности распределения электронных дефектов в этих образцах. Эффективность метода подтверждена экспериментами.